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關(guān)于無(wú)損檢測(cè)培訓(xùn)與無(wú)損檢測(cè)人員資質(zhì)認(rèn)證
無(wú)損檢測(cè)培訓(xùn)就是NDTTraining。無(wú)損檢測(cè)的縮寫是NDT，也叫無(wú)損檢測(cè)。就是在不損壞試件的前提下，以物理和化學(xué)方法為手段，借助先進(jìn)的技術(shù)和儀器設(shè)備，對(duì)試件內(nèi)部和表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)的方法。檢查工件宏觀缺陷或測(cè)量工件特征的各種技術(shù)方法的統(tǒng)稱。為什么要做無(wú)損檢測(cè)培訓(xùn)無(wú)損檢測(cè)是控制產(chǎn)品質(zhì)量*可靠的方法。執(zhí)行不好的無(wú)損檢測(cè)能夠引起**問(wèn)題，使進(jìn)口商受到嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失，更可怕的是會(huì)影響您公司
發(fā)布時(shí)間：2012-04-01 08:41
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無(wú)損檢測(cè)的應(yīng)用特點(diǎn)
1.不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)無(wú)損檢測(cè)的**特點(diǎn)就是能在不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行檢測(cè)，所以實(shí)施無(wú)損檢測(cè)后，產(chǎn)品的檢查率可以達(dá)到100%。但是，并不是所有需要測(cè)試的項(xiàng)目和指標(biāo)都能進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)也有自身的局限性。某些試驗(yàn)只能采用破壞性試驗(yàn)，因此，在目前無(wú)損檢測(cè)還不能代替破壞性檢測(cè)。也就是說(shuō)，對(duì)一個(gè)工件、材料、機(jī)器設(shè)備的評(píng)價(jià)，必須把無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果與破壞性試驗(yàn)的結(jié)果互相對(duì)比和配合，才能作出準(zhǔn)
發(fā)布時(shí)間：2012-04-01 08:40
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NJ 320--84內(nèi)燃機(jī)零部件磁粉探傷方法
NJ320--84內(nèi)燃機(jī)零部件磁粉探傷方法 中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部部標(biāo)準(zhǔn) NJ320--84 內(nèi)燃機(jī)零部件磁粉探傷方法-------------------------------
發(fā)布時(shí)間：2011-01-28 10:39
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JB 5439-91壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷
JB5439-91壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷 中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB5439-91壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷1主題內(nèi)容與適用范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級(jí)分類。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件（以下簡(jiǎn)稱“工件”）和其他類似部件的超聲波探傷。2引用標(biāo)準(zhǔn) ZBY230 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件 ZB0
發(fā)布時(shí)間：2011-01-28 10:27
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JB 5441－91壓縮機(jī)鑄鋼零件的超聲波探傷
JB 5441－91壓縮機(jī)鑄鋼零件的超聲波探傷1 主題內(nèi)容與適用范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級(jí)分類。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)鑄鋼零件（以下簡(jiǎn)稱工件）和其他類似鑄件的超聲波探傷。 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于奧氏體不銹鋼等粗晶材料鋼鑄件的超聲波探傷。2 引用標(biāo)準(zhǔn)GB7233 鑄鋼件超聲探傷方法及質(zhì)量評(píng)級(jí)方法ZBY230 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件ZB
發(fā)布時(shí)間：2011-01-28 09:47
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GB/T 5254-85鍺單晶晶向X光衍射測(cè)定方法
GB/T5254-85鍺單晶晶向X光衍射測(cè)定方法 中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 鍺單晶晶向X光衍射測(cè)定方法 GB/T5254-85——————————————————————————————————————本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定鍺單晶棒及片的晶向。1原理 當(dāng)一束波長(zhǎng)為λ的單色X光入射到單晶表面，與晶體主晶面之間的掠
發(fā)布時(shí)間：2010-12-05 09:26
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GB/T 4835-84 輻射防護(hù)用攜帶式Ｘ、γ輻射劑量率儀和監(jiān)測(cè)儀
GB/T4835-84輻射防護(hù)用攜帶式Ｘ、γ輻射劑量率儀和監(jiān)測(cè)儀 中 華 人 民 共 和 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) GB/T4835-84 輻射防護(hù)用攜帶式Ｘ、γ輻射劑量率儀和監(jiān)測(cè)儀───────────────────────────
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GB/T4075--83 密封 放 射 源 分 級(jí)
GB/T4075--83密封放射源分級(jí) 中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) GB/T4075--83 密封放射源分級(jí)━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 本標(biāo)準(zhǔn)系按照密封放射源的各
發(fā)布時(shí)間：2010-11-29 08:46
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