JB 5439-91壓縮機球墨鑄鐵零件的超聲波探傷
JB 5439-91
壓縮機球墨鑄鐵零件的超聲波探傷
1主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進行的探傷方法和缺陷等級分類。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機球墨鑄鐵零件（以下簡稱“工件”）和其他類似部件的超聲波探傷。
2引用標(biāo)準(zhǔn)
ZB Y230 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
ZB 04 001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法
JB 3111 無損檢測名詞術(shù)語
3術(shù)語
3.1 透聲性
超聲縱波垂直入射到測試面與底面平行的無缺陷工件時，聲波在其中往返一次所引起的聲壓降，單位為分貝(db)。
3.2本標(biāo)準(zhǔn)其他術(shù)語按JB3111的規(guī)定。
4探傷人員
壓縮機球墨鑄鐵零件探傷應(yīng)由具有一基礎(chǔ)知識和球墨鑄鐵件探傷經(jīng)驗，并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書者擔(dān)任。
5探傷器材
5.1 探傷儀
5.1.1采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其頻率范圍應(yīng)在1~5MHz之間。
5.1.2儀器至少應(yīng)在滿刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不得大于5%。
5.1.3儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)符合ZB Y230的有關(guān)規(guī)定。
5.2 探頭
5.2.1縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間，工作頻率為1~5MHz，頻率誤差為±10%。
5.2.2橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm２，K值一般取1~3。
5.2.3縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。
5.3 儀器系統(tǒng)的性能
儀器系統(tǒng)的靈敏度余量和分辨力應(yīng)按照ZB J04001的有關(guān)規(guī)定進行測試。
5.3.1在工作頻率下，縱波直探頭的靈敏度余量不得低于30dB，橫波斜探頭的靈敏度余量按附錄A（補充件）A1.2條的規(guī)定。
5.3.2在工作頻率下，縱波直探頭的分辨力不得低于20dB，橫波斜探頭的分辨力不得低于15dB。
5.4 試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊用碳鋼或低合金鋼鍛件材料制作，不允許存在大于等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。
5.4.1縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊
5.4.1.1工件探測距離大于等于1.6倍近場區(qū)，應(yīng)采用縱波直探頭。
5.4.1.2縱波直探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按圖1和表1。
圖1
表1 mm
高度H | 45 | 70 | 95 | 120 | 145 | 170 | 220 |
直徑D | 50 | 60 | 70 | 80 | |||
5.4.2 縱波雙晶直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊
5.4.2.1工件探測距離小于1.6倍近場區(qū)，應(yīng)采用縱波雙晶直探頭。
5.4.2.2縱波雙晶直探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊開頭和尺寸按圖2和表2。
圖2
表2 mm
序號 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
探測距離L | 5 | 10 | 15 | 10 | 25 | 30 | 35 | 40 | 45 |
5.4.4探傷面是曲面時，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近(0.7~1.1倍)的對比試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3及表1。
圖3
5.5 耦合劑
可采用機油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的耦合劑。
6 探傷時機及準(zhǔn)備工作
6.1 探傷原則上應(yīng)安排在*終熱處理后進行，若因熱處理后工件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后，仍應(yīng)對其進行盡可能完全的探傷。
6.2 工件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進行超聲探傷，所有影響超聲檢測的物質(zhì)都應(yīng)予以**。
6.3探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Ra3.2μm。
7 探傷方法
工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制，無法單獨用縱波探傷進行有效的檢測，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗方法。
7.1 探測方向
7.1.1 原則上應(yīng)從探測面上兩相互垂直的方向進行，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個體積。
7.1.2 主要工件的探測方向如圖4所示。
7.2 掃查
7.2.1應(yīng)對工件整個探測面進行**連續(xù)掃查。相鄰兩次掃查其相互重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。
7.2.2掃查時，探頭移動速度不得大于150mm/s。
7.2.3 因工件幾何形狀限制而掃查不到的區(qū)域，應(yīng)在探傷報告中予以注明。
7.3 工件透聲性的測定
將縱波直探頭與工件上探測面和底面平行而且無缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使**次底面回波幅度達到滿刻度的50%，記錄此時衰減器的讀數(shù)。再調(diào)節(jié)衰減器，使**次底面回波的幅度達到滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測量點的透聲性。測量點不得少于三點，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。
7.4 探傷靈敏度的確定
7.4.1 縱波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整
首先，將工件與探測距離等于或*接近工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補償值和表面粗糙度補償值。然后在該試塊上測試，使其φ3mm平底孔的回波幅度達到滿刻度的10%~20%，不改變儀器的參數(shù)，對探測距離較小的一系列試塊逐一測試，測出其φ3mm平底孔回波的**點，繪在熒光屏上，連接這些點即可建立距離－幅度曲線。也可A、V、G計算法或A、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線。
圖4
7.4.2 縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整
測試一組不同探測距離的φ3mm平底孔，調(diào)節(jié)衰減器，使其中**的回波幅度達到滿刻度的80%，不改變儀器的參數(shù)，測出其他平底孔回波的**點，將其繪在熒光屏上，連接這些點，即可建立縱波雙晶探頭的距離－幅度曲線。
7.4.3 補償
7.4.3.1 表面粗糙度補償：在探傷和缺陷定量時，應(yīng)對由于表面粗糙度引起的能量消耗進行補償。
7.4.3.2 透聲性補償：在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對試塊透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷定量的誤差進行透聲補償。
7.4.3.3 曲面補償：對于探測面是曲面的工件，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或相近(0.7~1.1倍)的對比試塊來校正，否則應(yīng)進行適當(dāng)?shù)那嫜a償。
7.4.4探測靈敏度不得低于**探測距離的φ3mm平底孔當(dāng)量。
7.5 探傷靈敏度的復(fù)查
探傷中，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時，應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時，應(yīng)對上一次校準(zhǔn)以來所檢查的工件進行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時，應(yīng)對所有記錄缺陷進行重新定量。
8 缺陷檢測
8.1 缺陷記錄
8.1.1 反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷。
8.1.2 反射回波幅度雖未達到距離－幅度曲線，但造成**次底面回波消失的缺陷。
8.1.3 底波和缺陷回波均沒有的部位。
8.1.4 雖不屬于上述三種情況，但探傷人員能判定是裂紋和縮孔的缺陷。
8.2 缺陷尺寸的測定
8.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者，其邊界可用6dB法確定。工件厚度方向的尺寸由不同方向檢測所確定的缺陷上部和下部邊界確定。
8.2.2 當(dāng)缺陷波未達到距離－幅度曲線，但**次底面回波消失時，缺陷的范圍應(yīng)從底面反射波剛好消失時的探頭中心位置算起到出現(xiàn)底面反射波時的探頭中心位置為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波*左側(cè)的波峰位置確定。
8.2.3 當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時，兩缺陷可折合為一個缺陷，缺陷面積按實測計。
8.2.4 單個缺陷的面積以該缺陷的**尺寸與其在垂直方向的**尺寸之積計算。
8.2.5 對于有疑問的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來進行驗證。
9 缺陷等級分類
9.1 工件中不允許存在裂紋和縮孔等危害性缺陷。
9.2 工件的缺陷等級按表3規(guī)定，但對于圓柱形實心軸類工件的缺陷等級分類按表4規(guī)定。
9.3 缺陷所在的截面積為探測部位的*小剖截面積。空心軸與實心軸的截面積均按實心軸計算。
表3
質(zhì)量等級 | 超過距離－幅度曲線的缺陷 | 底波消失類缺陷 |
1 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的5％ | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的10％ |
2 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的10％ | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的20％ |
3 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的20％ | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的30％ |
4 | 缺陷面積大于缺陷所在截面積的20％ | 缺陷面積大于缺陷所在截面積的30％ |
表4
質(zhì)量等級 | 缺陷長度 |
1 | 缺陷軸向長度小于等于缺陷所在截面積5％的正平方根 |
2 | 缺陷軸向長度小于等于缺陷所在截面積10％的正平方根 |
3 | 缺陷軸向長度小于等于截面積20％的正平方根 |
4 | 缺陷軸向長度大于等于截面積20％的正平方根 |
10 探傷報告
探傷報告應(yīng)包括以下內(nèi)容：
a.委托探傷的單位，探傷報告編號，簽發(fā)日期；
b.工件的名稱、編號、材料編號、熱處理狀態(tài)、探傷面的表面粗糙度、透聲性、工件尺寸草圖；
c.超探儀的型號、探頭型號、探傷頻率、耦合劑、探傷靈敏度；
d.在草圖上，標(biāo)明檢測區(qū)域。如有因幾何形狀限制而檢測不到的部位也必須在草圖上標(biāo)明；
e.缺陷的類型，尺寸和位置；
f.缺陷等級和探傷結(jié)論；
g.探傷人員和審核人員簽字。探傷人員的資格證號、等級、姓名和探傷日期。
附錄A
橫波檢驗
（補充件）
A1 檢測設(shè)備
A1.1儀器和探頭應(yīng)符合5.1、5.2和5.3條的要求。
A1.2儀器和探頭的組合靈敏度余量在**檢測聲程時不得低于10dB。
A1.3校正試塊的形狀和尺寸按圖A1和表A1。
A2 距離－幅度曲線的制作
利用圖A1所示的基本校正試塊，采用斜探頭，探測試塊深度位置分別為T/4、T/2、3T/4的橫孔，并在熒光屏上分別標(biāo)記出各個波幅點，連接這些點就得到距離－幅度曲線。
A3 掃查
橫波斜探頭探傷至少要沿探傷面上相互垂直的兩個方面進行掃查。在掃查的同時，應(yīng)不斷偏轉(zhuǎn)探頭，偏轉(zhuǎn)角度不得少于15°。
A4 缺陷記錄
A4.1 記錄回波幅度超過距離－幅度曲線的缺陷。
A4.2 探傷人員認(rèn)為有必要記錄的危害性缺陷。
A5 驗收標(biāo)準(zhǔn)
驗收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。
A6 探傷報告
探傷報告應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)第10章的規(guī)定。
圖A1
表A1 mm
材料公稱厚度 | 校正試塊厚度T | 孔徑φ |
≤25 | 25 | 2.5 |
>25~50 | 50 | 3.0 |
>50~100 | 100 | 5.0 |
>100~150 | 150 | 6.0 |
>150~200 | 200 | 8.0 |
附加說明：
本標(biāo)準(zhǔn)由**壓縮機標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由機械電子工業(yè)部合肥通用機械研究所歸口并負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人袁榕。
機械電子工業(yè)部1991-07-22批準(zhǔn)，1992-07-01實施。
