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    表面波探傷法

    日期:2025-08-04 10:40
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    摘要:
         對(duì)于近表面缺陷的檢查,表面波十分有效。正如理論論述的那樣,由于表面波的能量集中于表面下2個(gè)波長(zhǎng)之內(nèi),檢查表面裂紋靈敏度極高。
        表面波的位置分布可分解為與表面垂直和平行兩個(gè)方向的振動(dòng),即縱波與橫波所組成的橢圓形振動(dòng)。表面下2個(gè)波長(zhǎng)深度范圍之內(nèi)集中總能量的99%(40dB)。
        表面波的聲速約為縱波的1/2,比橫波稍小(見(jiàn)表1)。


    表1
    聲速m/s
    Cr
    2980
    2975
    Cs
    3200
    3100
    Cl
    5900
    6300

    1、表面波的產(chǎn)生
        表面波產(chǎn)生方法有著原理不同的兩種方法。即Y切割石英晶體和透聲楔方法。
        常用的表面波探頭采用與斜探頭相似的楔塊,當(dāng)橫波折射角為90°時(shí),即產(chǎn)生表面波(見(jiàn)圖1)。
    2、表面波在表面的傳播規(guī)律
    2.1、在平面上的傳播
    2.1.1、油的影響
        若在反射波傳播的表面上涂上油,那么所傳播的波幾乎完全衰減。用手壓也一樣。這是因?yàn)槔碚撋显谠嚰囊粋?cè)為真空下求解,而有液體處理方法截然不同。另一種觀點(diǎn)可以理解為表面波的垂直分量在液體層中引起衰減所致。用手按傳播表面可以判斷表面是否是裂紋或棱邊的反射。同時(shí)也說(shuō)明,探傷中探頭前面不得有油污的重要性。
    2.1.2、表面波的反射
        表面波遇到表面或近表面缺陷會(huì)產(chǎn)生反射。作為缺陷,有裂紋或體積狀缺陷(氣孔、夾渣)。表面波重點(diǎn)檢查裂紋。這里不討論體積型缺陷。
        (1)槽矩形槽的反射(裂紋)
        與裂紋相似的人工傷,一般刻矩形槽缺陷。(見(jiàn)圖2)。
        刻槽深度與回波高度關(guān)系繪于圖3中。
        (2)棱邊反射
        如表面波傳播中遇到工件的棱邊會(huì)產(chǎn)生反射波,也有一部能量超過(guò)棱邊繼續(xù)傳播(見(jiàn)圖4)。

        表面波在棱邊上的反射理論上無(wú)法解釋,但實(shí)驗(yàn)卻十分簡(jiǎn)單。棱邊為直角時(shí),反射率**。
        (3)帶曲率的棱邊反射
        如果棱邊倒角,其曲率半徑為r,反射回波降低。圖5畫(huà)出反射率與曲率半徑的關(guān)系。從圖中可以看出直角邊(r=0)反射率52%;r=5時(shí),反射率約為6%。即可以有更多能量通過(guò)圓弧面。
        在A、D棱邊反射信號(hào)中間,有時(shí)會(huì)出現(xiàn)其他回波信號(hào)B、C。這可能是入射波與回波干涉的結(jié)果。改變探傷頻率,結(jié)果會(huì)不同。
    2.1.3、表面波所產(chǎn)生的變型波
        (1)表面波在邊角處會(huì)產(chǎn)生的變型橫波(S),如圖7所示。其表面有一定曲率時(shí),表面波的產(chǎn)生是逐點(diǎn)進(jìn)行的(如圖C所示)。產(chǎn)生變型波會(huì)使表面波產(chǎn)生衰減,變型波也會(huì)影響回波波形判斷。有時(shí)也可加以利用。
    2.1.4、橫波所產(chǎn)生的變型表面波
        當(dāng)橫波傳播過(guò)程中,主聲束與內(nèi)孔或圓角相切時(shí)會(huì)產(chǎn)生變型表面波。變型表面波強(qiáng)度較大。
        變型表面波的產(chǎn)生會(huì)影響探傷波型的判斷。圖8是利用變型表面波探傷的實(shí)例。汽輪機(jī)葉片的葉根可利用的探傷面較少,也較窄。利用合適角度的斜探頭,使之聲束與圓弧面相切,此時(shí)會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的表面波,表面波沿表面?zhèn)鞑ィ@樣檢測(cè)出F1、F2處裂紋就成為可能。我們?cè)趯?shí)驗(yàn)室中試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用均取得較理想的效果。
    3、表面波探傷時(shí)儀器調(diào)整
    3.1、掃描速度調(diào)整
        掃描速度調(diào)整方法與普通斜探頭不一樣。入射點(diǎn)按探頭前沿(即探頭端頭)計(jì)算。調(diào)掃描速度時(shí),將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊棱邊,回波信號(hào)按水平距離調(diào)節(jié)成一定比例,一般前后移動(dòng)探頭,改變L值。例如L1=20mm,L2=40mm等,利用深度旋鈕,水平旋鈕,當(dāng)L1=20mm調(diào)節(jié)水平刻度20位置;L2=40mm,調(diào)整水平刻度40位置,即完成1:1調(diào)整。也可利用棱邊A、B一次調(diào)整完成。
    3.2、探傷靈敏度調(diào)整
        探頭對(duì)準(zhǔn)直角棱邊,調(diào)整棱邊回波高度達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值,例如滿屏的60%,再增益21dB作為探傷靈敏度。
        對(duì)于5MHz的探頭,此靈敏度相當(dāng)于發(fā)現(xiàn)0.1mm深的裂紋。
    4、應(yīng)用實(shí)例
    4.1、深度1mm以下裂紋測(cè)深度
    在探傷靈敏度下,當(dāng)回波高度等于21dB時(shí),說(shuō)明裂紋深度大于1mm。此時(shí)裂紋再深,回波不會(huì)再增加。當(dāng)回波幅度小于21dB時(shí),可查曲線(見(jiàn)圖10)得知裂紋深度。例如回波幅度10dB(5MHz)探頭,裂紋深度為0.3mm。實(shí)用證明此法測(cè)深較準(zhǔn)確。
    4.2、深度大于1mm裂紋測(cè)深
        深度大于1mm,回波已飽和,不再隨裂紋深度增加而增加,此時(shí)裂紋測(cè)深方法有兩種。4.2.1、單探頭法
        測(cè)深原理如圖11所示,回波B為裂紋端反射。A、B之間聲程差,即為裂紋深度。試塊上,切口面平滑,B波清晰可見(jiàn),人工裂紋測(cè)量精度可達(dá)±1mm。
        實(shí)用上,裂紋表面不平,回波B可能觀察不出來(lái)。
    4.2.2、雙探頭法
        雙探頭法探頭放置如圖12所示。無(wú)裂紋時(shí),表面波直達(dá)接收探頭(單程);有裂紋時(shí),真實(shí)裂紋直達(dá)波仍存在。繞過(guò)裂紋波為雙程,裂紋深度t=L/2。
        此法比單探頭有效。
    4.3、橫波產(chǎn)生的變型波的利用
        在一些特殊場(chǎng)合,使用各種探頭均達(dá)不到檢測(cè)裂紋的目的,可考慮使用變型表面波。如圖13所示。有些T型葉根用其他方法檢查葉根裂紋F1、F2十分困難。這時(shí),選用一定角度的斜探頭,在葉根側(cè)面,前后移動(dòng)探頭,使主聲束與圓弧面r角相切。這時(shí),會(huì)產(chǎn)生變型表面波。變型表面波沿表面?zhèn)鞑ゾ涂蓹z查出裂紋F1或F2。
        F1處于r角陰影處(盲區(qū)),橫波檢查不出,實(shí)驗(yàn)證明,變型表面波具有很高靈敏度。
    4.4、非平面探傷技術(shù)
        (1)圖14中畫(huà)出汽輪機(jī)葉片葉根探傷中的一種常見(jiàn)情況。
        探傷面高出葉根平面,高度為h0。表面波傳播中必須越過(guò)棱邊A、B才能檢出裂紋F。如前所述,表面波越過(guò)A邊,聲能損失較小(約衰減6dB),但越過(guò)B角,會(huì)產(chǎn)生變型橫波,聲能損失極大。這樣傳播到裂紋F處聲能很小,也就檢不出裂紋F。
        當(dāng)h0≤0.5mm時(shí),就有足夠的表面波能量達(dá)到F處,即可檢出裂紋F。討論其原因,頻率為5MHz的表面波波長(zhǎng)為0.65mm。這時(shí),會(huì)有足夠的表面波能量直射到裂紋F處。
    (2)圓弧后裂紋的檢測(cè)
        如圖15所示畫(huà)出汽輪機(jī)葉片探傷的另一種情況。
        表面波探頭放置在葉片側(cè)面,表面波越過(guò)棱邊A繼續(xù)傳播,達(dá)到倒角B處(弧面)時(shí),由于曲率半徑較大,可以檢查出裂紋F1,靈敏度較高。
        圓弧處會(huì)產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換。因此,無(wú)裂紋時(shí),固有波形較雜(在F1之后),會(huì)影響裂紋F2的判傷。改變探頭頻率固有回波會(huì)發(fā)生位置幅度變化。在試塊上試驗(yàn),選擇哪種探傷頻率固有波形*少,效果**。
    5、對(duì)表面波探頭的要求
        表面波探頭探傷靈敏度較高,一般5×5mm晶片就有足夠的靈敏度。為擴(kuò)大表面波應(yīng)用范圍,關(guān)鍵是減小探頭前沿尺寸。
        我們研制生產(chǎn)的表面波探頭技術(shù)指標(biāo)如下:
        頻率:2.5MHz、5MHz;
        晶片尺寸:5×5、6×6、8×8、10×10mm;
        探頭前沿:≤3mm;
        外型尺寸:長(zhǎng):寬:高=18:10:15(通用型);
        靈敏度:≥40dB(前沿距棱邊20mm);
        晶片尺寸、外型也可根據(jù)用戶要求生產(chǎn)。

    滬公網(wǎng)安備 31011002002681號(hào)

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