中國電科超聲掃描顯微鏡******
近日，中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子[1.42 6.77%]材料行業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子專用設(shè)備工業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子報(bào)共同評(píng)選出“第四屆(2009年度)中國半導(dǎo)體**產(chǎn)品和技術(shù)”36個(gè)項(xiàng)目。中國電子科技集團(tuán)公司第45研究所研發(fā)的SSJ-100超聲掃描顯微鏡榮獲此獎(jiǎng)項(xiàng)。
SSJ-100超聲掃描顯微鏡是一種離線的檢測(cè)分析設(shè)備，在失效分析、工藝過程開發(fā)、關(guān)鍵生產(chǎn)工序的監(jiān)控及小批量產(chǎn)品檢測(cè)方面有很大的優(yōu)勢(shì)，*******，并且在各類超聲圖像的構(gòu)建與分析、超聲發(fā)射接收裝置、聚焦承片裝置等多方面擁有相關(guān)**及自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的核心技術(shù)。該產(chǎn)品可用于各類半導(dǎo)體器件封裝如QFN、BGA、FlipChip、CSP、MCM等內(nèi)部損傷及不連續(xù)性等各種缺陷的無損檢測(cè)及可視化分析，并可用于MEMS的內(nèi)部無損檢測(cè)、制造工藝分析以及陶瓷、玻璃、金屬、塑料等各種材料的特征、特性分析。相對(duì)于X射線的無損檢測(cè)，超聲掃描顯微鏡可以完整反映器件內(nèi)部粘接層、填充層、結(jié)合層等各方面的內(nèi)部缺陷，作為無損檢測(cè)的新一代技術(shù)，它擁有不可替代的優(yōu)勢(shì)。它以良好的技術(shù)支持切實(shí)為用戶解決問題，在與國外同類產(chǎn)品的競(jìng)標(biāo)中獲得了用戶的認(rèn)可，受到了眾多用戶的好評(píng)。該產(chǎn)品不但在技術(shù)上成為用戶產(chǎn)品生產(chǎn)的可靠保障，而且真正降低了國內(nèi)用戶的生產(chǎn)成本。
