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電橋使用注意事項(xiàng)
日期：2025-04-28 18:52
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摘要：
電橋使用注意事項(xiàng)
1. 什么叫LCR數(shù)字電橋?
答:是一個(gè)傳統(tǒng)習(xí)慣的說法，*早的LCR測(cè)試就是一個(gè)真正的電橋平衡測(cè)試方法，現(xiàn)在一直沿用至今。
2.作為一個(gè)新用戶，怎樣選擇一款數(shù)字電橋？
答： （1）首先是看儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度。
（2）看儀器的測(cè)試頻率。
（3）看儀器的測(cè)試電平。
其他視客戶使用具體情況而定，或者可以根據(jù)客戶的實(shí)際情況向同惠公司技術(shù)咨詢。
3頻率不同對(duì)元件測(cè)試有影響嗎?
答:有，詳見同惠網(wǎng)站技術(shù)支持5.阻抗測(cè)量基礎(chǔ)一文中的測(cè)試信號(hào)頻...
電橋使用注意事項(xiàng)
1. 什么叫LCR數(shù)字電橋?
1. 什么叫LCR數(shù)字電橋?
答:是一個(gè)傳統(tǒng)習(xí)慣的說法，*早的LCR測(cè)試就是一個(gè)真正的電橋平衡測(cè)試方法，現(xiàn)在一直沿用至今。
2.作為一個(gè)新用戶，怎樣選擇一款數(shù)字電橋？
答： （1）首先是看儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度。
（2）看儀器的測(cè)試頻率。
（3）看儀器的測(cè)試電平。
其他視客戶使用具體情況而定，或者可以根據(jù)客戶的實(shí)際情況向同惠公司技術(shù)咨詢。
3頻率不同對(duì)元件測(cè)試有影響嗎?
答:有，詳見同惠網(wǎng)站技術(shù)支持5.阻抗測(cè)量基礎(chǔ)一文中的測(cè)試信號(hào)頻率信號(hào)相關(guān)性。
4.電壓不同對(duì)元件測(cè)試有影響嗎?
答: 有，詳見同惠網(wǎng)站技術(shù)支持5. 阻抗測(cè)量基礎(chǔ)一文中的測(cè)試信號(hào)電平信號(hào)相關(guān)性。
5.怎樣選擇測(cè)試電壓和頻率?
答:(1)根據(jù)被測(cè)件的實(shí)際應(yīng)用。
(2).根據(jù)相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。
(3).根據(jù)客戶自定要求。
6.對(duì)于一個(gè)已知的“電容”，客戶該選用什么樣的測(cè)試條件？
答(1)小于100pF電容用1MHZ頻率測(cè)量，中等容量如（1000pF-10uF）用1KHZ,10KHZ,100KHZ.國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中等電容的測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn)是1KHZ。電解類如鋁電解，鉭電解等用100HZ或120HZ。
(2)從電平的角度說大部分電容對(duì)電平不敏感，不同電平測(cè)試變化不大，但有些介電常數(shù)大的電容與電平非常敏感，應(yīng)仔細(xì)選擇電平。
9.什么是損耗D,品質(zhì)因數(shù)Q?
答: D、Q 兩者互為倒數(shù)，其計(jì)算方法為被測(cè)器件的有功功率PR（電阻器耗能）與無功功率PC（電容器儲(chǔ)能）或PL（電感器儲(chǔ)能）的比值.對(duì)串聯(lián)和并聯(lián)等效電路使用下式計(jì)算：=Rs/|Xs|,D=|Xp|/Rp，D和Q的值與等效方式無關(guān)。
10.怎樣選擇串聯(lián)和并聯(lián)測(cè)試參數(shù)?
答: a、可以兩個(gè)不同的測(cè)試頻率下?lián)p耗因子的變化性來決定，若頻率升高而損耗增加，則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路若頻率升高而損耗減小，則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路。對(duì)于電感來說，情況正好與電容相反。實(shí)際中，器件的D 不可能與頻率完全成正比關(guān)系，其可能有并聯(lián)成分，也可能有串聯(lián)成分，應(yīng)看何種成分占主導(dǎo)。b、根據(jù)元件的*終使用情況來判定。如用于信號(hào)耦合電容，則**選擇串聯(lián)方式，旁路或并聯(lián)諧振則使用并聯(lián)等效電路。C.習(xí)慣上說低阻抗元件用串聯(lián)，從數(shù)值上說阻抗小于100歐姆一定用串聯(lián)，大于10千歐用并聯(lián)，（100歐姆-10千歐）根據(jù)實(shí)際情況選擇。
11.什么叫等效串聯(lián)電阻Rs \并聯(lián)電阻Rp?
答:任何一個(gè)被測(cè)器件都可以等效為一個(gè)串聯(lián)電路或并聯(lián)電路. 串聯(lián)電阻Rs為串聯(lián)等效電路中的電阻部分，Rs也叫ESR. 并聯(lián)電阻Rp為并聯(lián)等效電路中的電阻部分，Rp也叫EPR。
12.怎樣選擇測(cè)試速度?
答:一般來說,測(cè)試速度是以犧牲測(cè)試精度為代價(jià)的:速度越快,精度越差，讀數(shù)穩(wěn)定性差，有效位數(shù)變少。如果要測(cè)試精度,一般選擇慢速，要考慮測(cè)試速度和測(cè)試精度就選擇中速。
13.儀器為什么要進(jìn)行清零?
答:因?yàn)?.由于儀器本身的漂移，會(huì)疊加一些雜散成份，如接觸電阻.電感.并聯(lián)電容等，則不清零就會(huì)有誤差。
2.短路清零對(duì)小阻抗器件更為有效，開路清零對(duì)高阻抗器件更有效。
15.什么是負(fù)載校準(zhǔn)，負(fù)載校準(zhǔn)應(yīng)注意哪些？
答：負(fù)載校準(zhǔn)是一種的**的儀器校準(zhǔn)方法，可以使儀器在高于儀器原有準(zhǔn)確度的基礎(chǔ)上測(cè)量元件，主要用于下面兩種情況：1.當(dāng)有更準(zhǔn)確的元件并需對(duì)同規(guī)格元件進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的測(cè)量。2.統(tǒng)一現(xiàn)場(chǎng)所有LCR數(shù)字電橋的測(cè)試數(shù)據(jù)。3.使用負(fù)載校準(zhǔn)可以使儀器在更高精度下測(cè)試。
16.掃頻和點(diǎn)頻清零有何區(qū)別?
答: 1.掃頻一般針對(duì)實(shí)際測(cè)試頻率點(diǎn)比較多的被測(cè)元件,點(diǎn)頻清零一般針對(duì)只要一個(gè)頻點(diǎn)的被測(cè)元件.
2.但是掃頻清零會(huì)費(fèi)較長(zhǎng)時(shí)間。
17.測(cè)量的顯示范圍和精度范圍有何區(qū)別?
答: 測(cè)量的顯示范圍一般大于精度范圍,具體精度計(jì)算可以參考同惠的相關(guān)技術(shù)資料。.
18.輸出阻抗不同對(duì)測(cè)試結(jié)果有什么影響，為什么有的儀器有30Ω”和100Ω的內(nèi)阻選擇？
答: 1.儀器輸出阻抗不同導(dǎo)致被測(cè)器件上信號(hào)不同,*終會(huì)導(dǎo)致顯示參數(shù)的不同.
2.測(cè)試時(shí)信號(hào)其實(shí)是被測(cè)件與儀器內(nèi)阻（輸出阻抗）串聯(lián)在一起，會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生分壓作用。因此低阻抗測(cè)試實(shí)際加到器件上的電平小于設(shè)定電平。早先的電橋內(nèi)阻是量程自動(dòng)變化的，目前同惠LCR內(nèi)阻一旦選定就不變化。30Ω兼容同惠較老電橋，100Ω能與Agilent的儀器匹配。
20.為什么L或C設(shè)置了,還不能進(jìn)行分選(還是判斷為不合格)?
答:儀器分選必須主副參數(shù)的極限標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)設(shè)置,如只滿足其中一個(gè)條件還是會(huì)判斷為不合格。
21.儀器的P1\P2\P3有何具體意義?
答: 儀器的P1\P2\P3用于儀器的**,二級(jí),三級(jí)品的分選. 一般**品的百分比極限小于二級(jí)品極限, 二級(jí)品的百分比極限小于三級(jí)品極限。
22.為什么同一個(gè)電感在不同廠家的LCR儀器上用相同測(cè)試條件,電感測(cè)試數(shù)據(jù)會(huì)有很大差別?
答:因?yàn)椋?.絕大多數(shù)電感都帶有鐵芯磁芯，而帶有鐵芯磁芯的電感對(duì)其施加的磁場(chǎng)非常敏感，磁場(chǎng)與測(cè)試信號(hào)電流成正比，因此相同電平若內(nèi)阻不同，電流就會(huì)不一樣，則結(jié)果 有很大差別。這是客戶電感測(cè)試時(shí)遇到的普遍問題。
2.判定儀器測(cè)試電感的一致性原則應(yīng)該是施加與被測(cè)件上的電流要一致，這其中有一個(gè)特例，就是空心電感與磁場(chǎng)不敏感的。
23.為什么有時(shí)器件會(huì)顯示”-”值?
答:因?yàn)椋?/span> 1.過度清零。
2.儀器有限的準(zhǔn)確度。
25.儀器的自動(dòng)和保持有什么實(shí)際作用?
答: 儀器的”自動(dòng)”一般用于未知大小的元件的測(cè)試.”保持”一般用于大小已經(jīng)確定的元件 測(cè)試, “保持”功能可以提高儀器的測(cè)試效率，保持也可以起到延長(zhǎng)儀器內(nèi)部繼電器的使用壽命。
26.儀器的串行軟件有何功能?
答: 儀器的串行軟件可以連接電腦等系統(tǒng)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)統(tǒng)計(jì)分析或者自動(dòng)測(cè)試。
27.儀器可以測(cè)貼片元件嗎?
答: 儀器配上專用SMD測(cè)試夾具就可以測(cè)貼片元件了。
